便攜式植物冠層分析儀測量的是什么

產(chǎn)品型號(hào)： Airphen

所屬分類：機(jī)載型植物冠層分析儀

更新時(shí)間：2018-07-04

簡要描述：便攜式植物冠層分析儀測量的是什么，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計(jì)算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當(dāng)?shù)刈游缇€的夾角。

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便攜式植物冠層分析儀測量的是什么

    根據(jù)事先量得的荊條灌叢株高和影響中的株高計(jì)算出圖像與灌叢實(shí)體尺度的比例，然后根據(jù)此比例計(jì)算出荊條灌叢冠層輪廓上其他各點(diǎn)坐標(biāo)。灌叢輪廓線上的點(diǎn)的數(shù)量和位置也不一定均勻分布。冠層輪廓按近似半球面，對(duì)冠層表面參數(shù)不齊的枝葉可取其平均位置作為冠層輪廓的表面。設(shè)置好采樣方式后，對(duì)每一株荊條的測點(diǎn)位置，將鏡頭放置于冠層上面對(duì)準(zhǔn)天空，測定一個(gè)數(shù)值后在將鏡頭放置于冠層下所選的測點(diǎn)，做4次重復(fù)測定，植物冠層分析儀計(jì)算給出冠層的LAI和DIFN。

便攜式植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)

    LAI測量分為直接測量和間接測量，直接測量對(duì)葉片具有破壞性，如格點(diǎn)法、方格法、落葉收集法和分層收割法等。間接測量方法主要是通過光學(xué)儀器測量相關(guān)參數(shù)直接或間接推算得到LAI。應(yīng)用比較多的就是間接測量方法。間接測量方法按照測量原理可分為兩種，一種是基于冠層空隙大小的分布來確定的，如植物冠層分析儀和魚眼鏡頭等。一種是基于冠層空隙率來確定的，如植被冠層分析儀。測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論，可以反演出對(duì)應(yīng)LAD區(qū)間的LAI分布，定量確定LAI和LAD的關(guān)系。Campbell橢球分布函數(shù)則可以擬合出不同樹種分布參數(shù)，以LAD為紐帶，對(duì)比分析兩種理論可判斷測量的準(zhǔn)確性。

便攜式植物冠層分析儀特點(diǎn)

    *兩輪設(shè)計(jì)便于野外快速、輕松獲取數(shù)據(jù)

    用戶友好接口、適合大區(qū)實(shí)驗(yàn)

    多角度測量降低直接光照影響

    GPS和羅盤精確定位測量